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超细粉体粒度检测的7大方法!

时间:2019-08-31
7种超细粉末粒度检测方法!

2019年,超细粉碎和精细分级新技术和新设备先进培训班将于2019年9月3日至5日在江苏省昆山市举行。详情请关注微信公众号“粉末技术网” “,注册咨询:

不同的应用领域对超细粉末的特性有不同的要求。在反映超细粉末特性的各项指标中,粒度分布是所有应用领域中最重要的指标,因此可以客观真实地反映出来。超细粉末的粒度分布至关重要,主要表现在以下两个方面:

在超细粉末加工生产过程中,粉末粒度检测是控制产品生产指标,调整和优化生产过程的主要依据。

对于超细粉末产品,粒度和粒度分布直接影响其性能,价格和用途。对于纳米材料,粒径和形状在材料的性质中起决定性作用,因此粉末粒度检测是必不可少的。

目前,主要有以下表征超细粉末的方法:

1.激光衍射散射法

在该片的基础上,通过光的散射现象测量粒径。粒径越大,散射角越小;粒径越小,散射角越大。

首先要获得具有良好分散性的悬浮液,否则会产生错误的结果。

2.电子显微镜观察方法

电子显微镜主要分为扫描电子显微镜,透射电子显微镜和扫描隧道电子显微镜。粒子的平均直径或粒度分布可以通过电子显微镜直接观察,这是粒度观察和测量的绝对方法,因此具有可靠性和直观性。

特点:在检测过程中要求颗粒处于良好的分散状态;为了获得准确的结果,需要大量的电子显微镜图像进行统计。否则,观察到的粉末的粒度分布可能不代表整个粉末的粒度范围。

3.结算方法

沉降法是通过液体中颗粒的沉降速度测量粒度分布的方法,主要有重力沉降型和离心沉降型两种沉降粒度分析方法,测量范围一般为44μm以上。

特征:由于实际颗粒的形状大多是非球形的,因此不可能使用数值来表示其尺寸。因此,与其他类型的粒度仪器一样,通过沉降粒度分析仪测量的粒度也是等效粒子。虽然用于沉淀法的仪器成本低,但与激光粒度分析仪相比,其测量时间长,速度慢,不利于重复分析。测量结果通常受手动操作和环境温度的影响。适用于2μm以下的颗粒。由于布朗运动,测量结果很小。

4.阻力法

也称为Coulter方法,它适用于测量具有均匀粒径(即窄粒度分布)的粉末样品,并且还适用于测量水中稀有固体颗粒的大小和数量。测得的粒径是等效电阻直径。用于测试的培养基通常是具有更好导电性的生理盐水。

特点:与其他粒度测量方法相比,Coulter方法分辨率最高,测量时间短,重复性和代表性好,操作误差小。缺点是动态范围小,容易被颗粒堵塞。测量停止,测量下限不够小。一般测量极限为1μm。

5.比表面积法

在细分散材料的制备中,随着颗粒尺寸变得越来越小,形成越来越多的颗粒表面,导致表面能量的巨大变化,并且表面积通过比表面积的概念与颗粒尺寸相关。即:

体积比表面积=颗粒的总表面积/颗粒的总体积;质量比表面积=颗粒的总表面积/颗粒的总质量。

一块决定。

该方法需要高真空和预先严格的脱气处理,控制测量精度的因素主要是颗粒的形状和缺陷,如孔隙和裂缝。这些因素导致测量结果出现负偏差。

6.X射线衍射线宽法

X射线衍射线宽法是确定粒子粒度的最佳方法。当颗粒是单晶时,该方法测量粒度。当颗粒是多晶时,该方法测量构成单个颗粒的各个颗粒的平均颗粒尺寸。

该测量方法适用于测量结晶纳米颗粒的粒度。实验表明,当晶粒尺寸小于或等于50nm时,测量值接近实际值。否则,测量值通常小于实际值。

7.聚集状态的表征

附聚物的性质可分为团块的大小,形状,分布和含量;孔隙率,孔径和附聚物分布;密度,内部微观结构和附聚物强度;目前,常用的团块表征方法主要包括显微组织观察法,素胚密度 - 压力法和水银压入法等。

除了上述粒度测量方法之外,还有一些测量方法,例如X射线小角散射,拉曼散射,穆斯堡尔,原子力显微镜(AFM)和扫描隧道电子显微镜。测量粒度。

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来源:中国粉末技术网

7种超细粉末粒度检测方法!

2019年,超细粉碎和精细分级新技术和新设备先进培训班将于2019年9月3日至5日在江苏省昆山市举行。详情请关注微信公众号“粉末技术网” “,注册咨询:

不同的应用领域对超细粉末的特性有不同的要求。在反映超细粉末特性的各项指标中,粒度分布是所有应用领域中最重要的指标,因此可以客观真实地反映出来。超细粉末的粒度分布至关重要,主要表现在以下两个方面:

在超细粉末加工生产过程中,粉末粒度检测是控制产品生产指标,调整和优化生产过程的主要依据。

对于超细粉末产品,粒度和粒度分布直接影响其性能,价格和用途。对于纳米材料,粒径和形状在材料的性质中起决定性作用,因此粉末粒度检测是必不可少的。

目前,主要有以下表征超细粉末的方法:

1.激光衍射散射法

在该片的基础上,通过光的散射现象测量粒径。粒径越大,散射角越小;粒径越小,散射角越大。

首先要获得具有良好分散性的悬浮液,否则会产生错误的结果。

2.电子显微镜观察方法

电子显微镜主要分为扫描电子显微镜,透射电子显微镜和扫描隧道电子显微镜。粒子的平均直径或粒度分布可以通过电子显微镜直接观察,这是粒度观察和测量的绝对方法,因此具有可靠性和直观性。

特点:在检测过程中要求颗粒处于良好的分散状态;为了获得准确的结果,需要大量的电子显微镜图像进行统计。否则,观察到的粉末的粒度分布可能不代表整个粉末的粒度范围。

3.结算方法

沉降法是通过液体中颗粒的沉降速度测量粒度分布的方法,主要有重力沉降型和离心沉降型两种沉降粒度分析方法,测量范围一般为44μm以上。

特征:由于实际颗粒的形状大多是非球形的,因此不可能使用数值来表示其尺寸。因此,与其他类型的粒度仪器一样,通过沉降粒度分析仪测量的粒度也是等效粒子。虽然用于沉淀法的仪器成本低,但与激光粒度分析仪相比,其测量时间长,速度慢,不利于重复分析。测量结果通常受手动操作和环境温度的影响。适用于2μm以下的颗粒。由于布朗运动,测量结果很小。

4.阻力法

也称为Coulter方法,它适用于测量具有均匀粒径(即窄粒度分布)的粉末样品,并且还适用于测量水中稀有固体颗粒的大小和数量。测得的粒径是等效电阻直径。用于测试的培养基通常是具有更好导电性的生理盐水。

特点:与其他粒度测量方法相比,Coulter方法分辨率最高,测量时间短,重复性和代表性好,操作误差小。缺点是动态范围小,容易被颗粒堵塞。测量停止,测量下限不够小。一般测量极限为1μm。

5.比表面积法

在细分散材料的制备中,随着颗粒尺寸变得越来越小,形成越来越多的颗粒表面,导致表面能量的巨大变化,并且表面积通过比表面积的概念与颗粒尺寸相关。即:

体积比表面积=颗粒的总表面积/颗粒的总体积;质量比表面积=颗粒的总表面积/颗粒的总质量。

一块决定。

该方法需要高真空和预先严格的脱气处理,控制测量精度的因素主要是颗粒的形状和缺陷,如孔隙和裂缝。这些因素导致测量结果出现负偏差。

6.X射线衍射线宽法

X射线衍射线宽法是确定粒子粒度的最佳方法。当颗粒是单晶时,该方法测量粒度。当颗粒是多晶时,该方法测量构成单个颗粒的各个颗粒的平均颗粒尺寸。

该测量方法适用于测量结晶纳米颗粒的粒度。实验表明,当晶粒尺寸小于或等于50nm时,测量值接近实际值。否则,测量值通常小于实际值。

7.聚集状态的表征

附聚物的性质可分为团块的大小,形状,分布和含量;孔隙率,孔径和附聚物分布;密度,内部微观结构和附聚物强度;目前,常用的团块表征方法主要包括显微组织观察法,素胚密度 - 压力法和水银压入法等。

除了上述粒度测量方法之外,还有一些测量方法,例如X射线小角散射,拉曼散射,穆斯堡尔,原子力显微镜(AFM)和扫描隧道电子显微镜。测量粒度。

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